Редакция журнала "СТЭК-В" представляет юбилейный, десятый выпуск издания. Номер открывает большое интервью генерального директора АО "НИИЭТ" Павла Куцько, в котором он делится видением развития отечественной микроэлектроники, создания новых разработок и перспективами внедрения российской электронной компонентной базы.
Юбилейный десятый выпуск журнала "СТЭК-В"
Основные материалы десятого выпуска
- Хочется перейти от этапа становления к этапу процветания (интервью П.П. Куцько)
- Концепция программно-аппаратной системы диагностики микросхем с использованием методов автоматизированной аналитики данных (А.А. Наумов, А.С. Ягодкин)
- Экспериментальное исследование GaN-транзисторов ТНГ-КВ65020П в составе двухтактного усилителя мощности (В.А. Сороцкий и др.)
- Исследование алгоритма адаптивной цифровой фильтрации на основе нейронной сети ADALINE (С.Ю. Колесников, Ю.К. Николаенков)
- Возможности метода ультрамягкой рентгеновской эмиссионной спектроскопии при исследовании тонких пленок силицидов Mo-Si
- Этапы микроэлектронного производства и роль измерительного контроля (Д.М. Кирьянов, Д.Г. Бормотов)
- Защита от электромагнитных излучений технических и биологических объектов (А.И. Белоус, Ю.С. Ушеренко)
- Навигационно-связная аппаратура для наземного сегмента космической отрасли (Е.И. Старовойтов)
- Возможные сбои в интегральных схемах (А.Н. Потапов и др.)
- Прогнозирование критической частоты ионосферного слоя F2 с помощью нейронных сетей
- Разработка системы генерации сигналов методом прямого цифрового синтеза
- Автоматизированная система контроля качества микросхем на основе свёрточных нейронных сетей (В.А. Талиманчук, А.А. Коваль)Десятый выпуск журнала "СТЭК-В" продолжает традицию публикации актуальных научных и практических материалов, способствующих развитию отечественной микроэлектроники и радиоэлектронной отрасли.
Журнал приглашает к сотрудничеству авторов научных и технических статей. По вопросам публикации обращайтесь к Константину Зольникову: k.v.zolnikov@niiet.ru.
Источник: Журнал "СТЭК-В" (АО "НИИЭТ")