Исследователи из Universidad Autónoma de Ciudad Juárez разработали открытую аппаратную платформу Electrical Testing Board, которая обеспечивает внутрисхемное и функциональное тестирование электронных узлов по цене около $790. Решение ориентировано на прототипирование, образование, лаборатории и мелкосерийное производство.
Открытая аппаратная плата Electrical Testing Board для автоматизированного тестирования
Основные характеристики
- Стоимость: ≈ $790
- Размер платы: 187 × 160 мм, 4-слойная FR-4
- Разъём: 88-контактный gold-finger для подключения к backplane
- Архитектура: модульная, состоит из трёх плат
- Основная PCB с тестовой схемой
- Плата реле для коммутации сигналов
- Съёмная плата микроконтроллера
- Основной контроллер: Microchip PIC32MX795F512L @ 80 МГц
- Управление реле: два микроконтроллера PIC18F4620
- Тестовые узлы: 16 узлов с коммутацией на реле
- Время тестового цикла: 10–50 мс на устройство
- Диапазоны измерений:
- Напряжение: 0 – 100 В
- Ток: 1 мкА – 1 мА
- Сопротивление: 0,5 Ом – 1 МОм
- Ёмкость: 10 нФ – 220 мкФ
- Точность: ошибка напряжения и сопротивления обычно менее 1% (в верхних диапазонах)
- Полоса частот: DC – 10 кГц
- Интерфейсы: RS-232, оптоизолированный UART, Ethernet
- Масштабируемость: до 12 плат на один хост для параллельного тестирования
Система позволяет коммутировать сигналы между программируемыми источниками питания, измерительными цепями, компараторами, подтягивающими цепями и схемами защиты. Платформа не заменяет промышленное ATE: поддерживает одно тестируемое устройство на плату и не измеряет индуктивность, а также не поддерживает JTAG.
Лицензии
- Аппаратная часть: CERN Open Hardware Licence v2.0
- Прошивка: GNU GPL v3.0
- Документация: Creative Commons Attribution 4.0
Файлы проекта, схемы, прошивка и спецификация доступны для свободного копирования и модификации.
Источник: Electronics For You